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光学膜厚监控仪           型号:MKG5

    本产品是监控光学薄膜厚度的仪器，用于控制1/4λ光学薄膜。用于制备滤光膜、反射膜、增透膜及析光膜。仪器结构简单，使用方便。垂直透反射光路，出光选用光导纤维，方便连接。主要配套在箱式光学镀膜机上。